元器件和半导体领域专利审查案例评析
- 作者李永红主编
- 出版社北京：知识产权出版社
- 标注页数124 页
- 文件页数131 页
- 文件大小27.84 MB
- 出版时间2013
- ISBN9787513021029
内容简介
本书以新颖性、创造性判断为主线，针对元器件、半导体领域提供了一些具有典型性的审查案例并进行分析。其中，既有涉及检索技巧的专业介绍，也有涉及技术理解、法律判断的一些案例。有些案例很有特点，分析也颇有深度。
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