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Effect of Low Temperature Annealing on the Surface Conductivity of Si in the Si-SiO<inf>2</inf>-Al System

Effect of Low Temperature Annealing on the Surface Conductivity of Si in the Si-SiO2-Al System

Cheroff, G.; Fang, F.; Hochberg, F.
  • 期刊名称IBM Journal of Research and Development
  • 作者Cheroff, G.; Fang, F.; Hochberg, F.
  • 卷第8卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0018-8646
  • 电子ISSN0018-8646
  • 文件大小475.75KB
  • 发表时间1964-09
  • DOI10.1147/rd.84.0416
  • 页码416-421
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