![Ti/HfO2 Based RRAM Operation Voltage Scaling for Embedded Memory]()
Ti/HfO2 Based RRAM Operation Voltage Scaling for Embedded MemoryTsai, C. H.; Chen, F. T.; Lee, H. Y.; Chen, Y. S.; Tsai, K. H.; Wu, T. Y.; Rahaman, S. Z.; Gu, P. Y.; Chen, W. S.; Chen, P. S.; Lin, Z. H.; Tseng, P. L.; Lin, W. P.; Lin, C. H.; Sheu, S. S.; Tsai, M. J.; Ku, T. K. · ECS Transactions · 2013