Nondestructive thickness measurement of thin films on microstructures
- 作者I. Fränz; W. Langheinrich
- 卷第11卷
- 期第11期
- 印刷ISSN0038-1101
- 文件大小420.62KB
- 发表时间1968
- DOI10.1016/0038-1101(68)90120-2
- 页码987-988
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ContributorsVos, Eline K.; Litjens, Geert J.S.; Kobus, Thiele; Hambrock, Thomas; Kaa, Christina A. Hulsbergen-van de; Barentsz, Jelle O.; Huisman, Henkjan J.; Scheenen, Tom W.J. · Perioperative Nursing Clinics · 2012
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