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Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

Electron irradiation damage in silicon containing carbon and oxygen

A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith
  • 作者A.R. Bean; R.C. Newman; R.S. Smith
  • 卷第7卷
  • 期第22期
  • 印刷ISSN0038-1098
  • 文件大小86.95KB
  • 发表时间1969
  • DOI10.1016/0038-1098(69)90056-8
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