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Shallow phosphorus diffusion profiles in silicon : J. C. C. Tsai, Proc. IEEE57, No. 9, September (1969), p. 1499
卷
第9卷
期
第5期
印刷ISSN
0026-2714
文件大小
114.46KB
发表时间
1970
DOI
10.1016/0026-2714(70)90403-8
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