Development of a Si:As blocked impurity band detector for far IR detection
D. S. Tezcan; J. Putzeys; K. De Munck; T. Souverijns; P. Merken; P. Fiorini; C. Van Hoof; T. Dartois; C. Israbian; S. M. Birkmann; J. Stegmaier; U. Grözinger; O. Krause; P. De Moor; R. E. Longshore; A. K. Sood; E. L. Dereniak; J. P. Hartke
- 作者D. S. Tezcan; J. Putzeys; K. De Munck; T. Souverijns; P. Merken; P. Fiorini; C. Van Hoof; T. Dartois; C. Israbian; S. M. Birkmann; J. Stegmaier; U. Grözinger; O. Krause; P. De Moor; R. E. Longshore; A. K. Sood; E. L. Dereniak; J. P. Hartke
- 文件大小1203.75KB
- DOI10.1117/12.733779