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IIB-2 a new method to measure very low bulk trap densities in silicon

IIB-2 a new method to measure very low bulk trap densities in silicon

Collet, M.G.

作者Collet, M.G.
卷第22卷
期第11期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小185.21KB
发表时间1975
DOI10.1109/t-ed.1975.18287
页码1058-1058

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