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An experimental method to analyse trapping centres in silicon at very low concentrations

An experimental method to analyse trapping centres in silicon at very low concentrations

M.G. Collet

作者M.G. Collet
卷第18卷
期第12期
印刷ISSN0038-1101
文件大小548.20KB
发表时间1975
DOI10.1016/0038-1101(75)90170-7
页码1077-1083

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