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Ionizing Radiation Effects on Various Commercial NMOS Microprocessors

Ionizing Radiation Effects on Various Commercial NMOS Microprocessors

Myers, David K.

作者Myers, David K.
卷第24卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小486.84KB
发表时间1977
DOI10.1109/tns.1977.4329185

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