Four levels of pattern recognition
- 作者Christer Albano; William Dunn III; Ulf Edlund; Erik Johansson; Bo Nordén; Michael Sjöström; Svante Wold
- 卷第103卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0003-2670
- 文件大小1029.36KB
- 发表时间1978
- DOI10.1016/s0003-2670(01)83107-x
- 页码429-443
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