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An Experimental Delay Test Generator for LSI Logic

An Experimental Delay Test Generator for LSI Logic

Lesser, J.D.; Shedletsky, J.J.
  • 作者Lesser, J.D.; Shedletsky, J.J.
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0018-9340
  • 文件大小4691.87KB
  • 发表时间1980
  • DOI10.1109/tc.1980.1675555
  • 页码235-248
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