发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

Experience with Path Analysis and Testing of Programs

Experience with Path Analysis and Testing of Programs

Woodward, M.R.; Hedley, D.; Hennell, M.A.
  • 作者Woodward, M.R.; Hedley, D.; Hennell, M.A.
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0098-5589
  • 文件大小3757.38KB
  • 发表时间1980
  • DOI10.1109/tse.1980.230473
← 返回【学霸图书馆】主页