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Function testing of bipolar ICs and LSIs with the stroboscopic scanning electron microscope

Function testing of bipolar ICs and LSIs with the stroboscopic scanning electron microscope

Fujioka, H.; Nakamae, K.; Ura, K.

作者Fujioka, H.; Nakamae, K.; Ura, K.
卷第15卷
期第2期
文件大小1246.51KB
发表时间1980
DOI10.1109/jssc.1980.1051360
页码177-183

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