Electron Energy Distributions During Pulsed Laser Annealing and Damage of Silicon
Williams, R. T.; Kabler, M. N.; Long, J. P.; Rife, J. C.; Royt, T. R.
- 期刊名称MRS Proceedings
- 作者Williams, R. T.; Kabler, M. N.; Long, J. P.; Rife, J. C.; Royt, T. R.
- 卷第4卷
- 电子ISSN1946-4274
- 文件大小355.25KB
- 发表时间1981-1
- DOI10.1557/proc-4-97