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Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard; A. J. Tosser; D. Deschacht; A. Boyer; E. Groubert; C. R. Tellier

作者C. R. Pichard; A. J. Tosser; D. Deschacht; A. Boyer; E. Groubert; C. R. Tellier
卷第16卷
期第10期
印刷ISSN0022-2461
电子ISSN1573-4803
文件大小338.96KB
发表时间1981-10
DOI10.1007/bf00552964
页码2798-2802