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$X-ray and electron diffraction studies of chemically vapour-deposited tin oxide films$

X-ray and electron diffraction studies of chemically vapour-deposited tin oxide films

K.B. Sundaram; G.K. Bhagavat

作者K.B. Sundaram; G.K. Bhagavat
卷第78卷
期第1期
印刷ISSN0040-6090
文件大小336.14KB
发表时间1981
DOI10.1016/0040-6090(81)90415-6
页码35-40

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