Surface spectroscopy

P. F. Liao; T. F. Heinz; C. K. Chen; D. Ricard; Y. R. Shen; D. A. Weitz; S. Garoff; M. S. Alvarez; J. C. Chung; A. Wokaun; L. M. Humphrey; M. B. Stern; P. S. Bechthold; U. Kettler; W. Krasser; I. Z. Xie; R. Hemphill; S. Whiteley; T. K. Gustafson

作者P. F. Liao; T. F. Heinz; C. K. Chen; D. Ricard; Y. R. Shen; D. A. Weitz; S. Garoff; M. S. Alvarez; J. C. Chung; A. Wokaun; L. M. Humphrey; M. B. Stern; P. S. Bechthold; U. Kettler; W. Krasser; I. Z. Xie; R. Hemphill; S. Whiteley; T. K. Gustafson
卷第28卷
印刷ISSN0946-2171
电子ISSN1432-0649
文件大小473.62KB
发表时间1982-0607
DOI10.1007/bf00697849
页码229-232

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Surface spectroscopy