Surface Chemical Treatment Effects in Ultra-High Purity P-Type Si Detectors

• 作者Takami, Y.; Shiraishi, F.; Hosoe, M.
• 卷第30卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0018-9499
• 电子ISSN1558-1578
• 文件大小604.47KB
• 发表时间1983
• DOI10.1109/tns.1983.4332292
• 页码376-379