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Algorithm for Determining Worst Case Transistor Parameters

Algorithm for Determining Worst Case Transistor Parameters

Long, David M.; Jaffe, Richard C.; Casey, Richard H.
  • 作者Long, David M.; Jaffe, Richard C.; Casey, Richard H.
  • 卷第31卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN0018-9499
  • 电子ISSN1558-1578
  • 文件大小834.90KB
  • 发表时间1984
  • DOI10.1109/tns.1984.4333560
  • 页码1593-1596
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