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The impact of microelectronics on particle detection

The impact of microelectronics on particle detection

Erik H.M. Heijne; Pierre Jarron

作者Erik H.M. Heijne; Pierre Jarron
卷第226卷
期第1期
印刷ISSN0168-9002
文件大小294.10KB
发表时间1984
DOI10.1016/0168-9002(84)90158-x
页码12-15

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