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Time-Dependent Dielectric Breakdown of Thin Thermally Grown SiO2 Films

Time-Dependent Dielectric Breakdown of Thin Thermally Grown SiO2 Films

Yamabe, K.; Taniguchi, K.

作者Yamabe, K.; Taniguchi, K.
卷第20卷
期第1期
文件大小1062.04KB
发表时间1985
DOI10.1109/jssc.1985.1052312
页码343-348

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