High resolution studies of NiSi2 ultrathin film formation by ion scattering and cross-section tem
E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen; F. Legoues
- 作者E.J. Van Loenen; A.E.M.J. Fischer; J.F. Van Der Veen; F. Legoues
- 卷第154卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0167-2584
- 文件大小101.67KB
- 发表时间1985
- DOI10.1016/0167-2584(85)90672-3