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EL2 and Related Defects in GaAs--Challenges and Pitfalls

EL2 and Related Defects in GaAs--Challenges and Pitfalls

Gatos, H. C.; Lagowski, J.

期刊名称MRS Proceedings
作者Gatos, H. C.; Lagowski, J.
卷第46卷
电子ISSN1946-4274
文件大小927.85KB
发表时间1985-1
DOI10.1557/proc-46-153

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