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Sampling Bias and the Inspection Paradox

Sampling Bias and the Inspection Paradox

Stein, William E.; Dattero, Ronald
  • 期刊名称Mathematics Magazine
  • 作者Stein, William E.; Dattero, Ronald
  • 卷第58卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0025-570X
  • 电子ISSN1930-0980
  • 文件大小501.29KB
  • 发表时间1985-03
  • DOI10.1080/0025570x.1985.11977160
  • 页码96-99
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