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Ternary Scan Design for VLSI Testability

Ternary Scan Design for VLSI Testability

Mou Hu; Smith, K.C.
  • 作者Mou Hu; Smith, K.C.
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0018-9340
  • 文件大小801.25KB
  • 发表时间1986
  • DOI10.1109/tc.1986.1676735
  • 页码167-170
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