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High-resolution Rutherford backscattering spectrometry of metal-silicon interfaces

High-resolution Rutherford backscattering spectrometry of metal-silicon interfaces

J.F. van der Veen; E.J. van Loenen
  • 作者J.F. van der Veen; E.J. van Loenen
  • 卷第168卷
  • 文件大小573.83KB
  • 发表时间1986
  • DOI10.1016/0039-6028(86)90902-7
  • 页码701-712
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