/Si(111): Thin-film characterization by high-resolution electron-energy-loss spectroscopy
Liehr, M.; Thiry, P. A.; Pireaux, J. J.; Caudano, R.
- 期刊名称Physical Review B
- 作者Liehr, M.; Thiry, P. A.; Pireaux, J. J.; Caudano, R.
- 卷第34卷
- 期第10期
- 印刷ISSN0163-1829
- 文件大小310.00KB
- 发表时间1986-11-15
- DOI10.1103/PhysRevB.34.7471
- 页码7471-7474