Observation of Atomic Image of 2H-NbSe2 Surface by Scanning Tunneling Microscope
H. Tokumoto; H. Bando; W. Mizutani; M. Okano; M. Ono; H. Murakami; S. Okayama; Y. Ono; K. Watanabe; S. Wakiyama; F. Sakai; K. Endo; K. Kajimura
- 作者H. Tokumoto; H. Bando; W. Mizutani; M. Okano; M. Ono; H. Murakami; S. Okayama; Y. Ono; K. Watanabe; S. Wakiyama; F. Sakai; K. Endo; K. Kajimura
- 文件大小463.00KB
- 发表时间1986
- DOI10.1143/JJAP.25.L621