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Electronic defects in heterogeneous CuInS2

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H. J. Lewerenz; K. -D. Husemann; M. Kunst; H. Goslowsky; S. Fiechter; H. Neff

作者H. J. Lewerenz; K. -D. Husemann; M. Kunst; H. Goslowsky; S. Fiechter; H. Neff
卷第21卷
期第12期
印刷ISSN0022-2461
电子ISSN1573-4803
文件大小1111.14KB
发表时间1986-12
DOI10.1007/bf01106565
页码4419-4423

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