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Scanning tunneling microscopy on Si(112)

Scanning tunneling microscopy on Si(112)

Th. Berghaus; A. Brodde; H. Neddermeyer; St. Tosch

作者Th. Berghaus; A. Brodde; H. Neddermeyer; St. Tosch
卷第184卷
文件大小3805.11KB
发表时间1987
DOI10.1016/s0039-6028(87)80285-6
页码273-288

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