Electroreflectance Depth Profiling and Hall Measurements of Thermally Converted GaAs Layers
- 作者H. Röppischer; R. Goldhahn; J. A. Bumai; D. S. Domanevskii
- 卷第103卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1862-6319
- 文件大小363.33KB
- 发表时间1987
- DOI10.1002/pssa.2211030117
- 页码161-166
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