Radiation damage in silicon microstrip detectors

T. Ohsugi; A. Taketani; M. Noda; Y. Chiba; M. Asai; T. Kondo; T. Sato; M. Takasaki; K.H. Tanaka; K. Kondo; H. Hirayama; K. Yamamoto; H. Tanaka

作者T. Ohsugi; A. Taketani; M. Noda; Y. Chiba; M. Asai; T. Kondo; T. Sato; M. Takasaki; K.H. Tanaka; K. Kondo; H. Hirayama; K. Yamamoto; H. Tanaka
卷第265卷
印刷ISSN0168-9002
文件大小481.22KB
发表时间1988
DOI10.1016/0168-9002(88)91061-3
页码105-111

发现好书期刊，享受阅读乐趣