Preparation of STM tips for in-situ characterization of electrode surfaces
Heben, Michael J.; Dovek, Moris M.; Lewis, Nathan S.; Penner, Reginald M.; Quate, Calvin F.
- 期刊名称Journal of Microscopy
- 作者Heben, Michael J.; Dovek, Moris M.; Lewis, Nathan S.; Penner, Reginald M.; Quate, Calvin F.
- 卷第152卷
- 期第3期
- 印刷ISSN1364-5145
- 电子ISSN1755-7550
- 文件大小1182.58KB
- 发表时间1988-12
- DOI10.1111/j.1365-2818.1988.tb01434.x