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Preparation of STM tips for in-situ characterization of electrode surfaces

Preparation of STM tips for in-situ characterization of electrode surfaces

Heben, Michael J.; Dovek, Moris M.; Lewis, Nathan S.; Penner, Reginald M.; Quate, Calvin F.
  • 期刊名称Journal of Microscopy
  • 作者Heben, Michael J.; Dovek, Moris M.; Lewis, Nathan S.; Penner, Reginald M.; Quate, Calvin F.
  • 卷第152卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN1364-5145
  • 电子ISSN1755-7550
  • 文件大小1182.58KB
  • 发表时间1988-12
  • DOI10.1111/j.1365-2818.1988.tb01434.x
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