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$Double exposure holographic interferometric evaluation of plated fracture systems$

Double exposure holographic interferometric evaluation of plated fracture systems

J.C. Shelton; D. Gorman; W. Bonfield

作者J.C. Shelton; D. Gorman; W. Bonfield
卷第22卷
期第10期
印刷ISSN0021-9290
文件大小112.56KB
发表时间1989
DOI10.1016/0021-9290(89)90459-4

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