Transient analysis of multiple-unit reliability systems

• 作者O. P. Sharma; N. Ravichandran; J. Dass
• 卷第36卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0894-069X
• 电子ISSN1520-6750
• 文件大小313.08KB
• 发表时间1989
• DOI10.1002/1520-6750(198906)36:3<255::aid-nav3220360303>3.0.co;2-l
• 页码255-264