Implantation temperature dependence of electrical activation, solubility, and diffusion of implanted Te, Cd, and Sn in GaAs
Pearton, S. J.; Williams, J. S.; Short, K. T.; Johnson, S. T.; Jacobsen, D. C.; Poate, J. M.; Gibson, J. M.; Boerma, D. O.
- 期刊名称Journal of Applied Physics
- 作者Pearton, S. J.; Williams, J. S.; Short, K. T.; Johnson, S. T.; Jacobsen, D. C.; Poate, J. M.; Gibson, J. M.; Boerma, D. O.
- 卷第65卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0021-8979
- 文件大小1332.03KB
- 发表时间1989
- DOI10.1063/1.343044