4845425 Full chip integrated circuit tester
JohannesG Beha; RussellW Dreyfus; JeffreyA Kash; GaryW Rubloff
- 作者JohannesG Beha; RussellW Dreyfus; JeffreyA Kash; GaryW Rubloff
- 卷第30卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0026-2714
- 文件大小80.23KB
- 发表时间1990
- DOI10.1016/0026-2714(90)90542-u