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4845425 Full chip integrated circuit tester

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JohannesG Beha; RussellW Dreyfus; JeffreyA Kash; GaryW Rubloff
  • 作者JohannesG Beha; RussellW Dreyfus; JeffreyA Kash; GaryW Rubloff
  • 卷第30卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0026-2714
  • 文件大小80.23KB
  • 发表时间1990
  • DOI10.1016/0026-2714(90)90542-u
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