A multiprocessor data acquisition and analysis system for scanning tunneling microscopy
Hoeven, A. J.; van Loenen, E. J.; van Hooft, P. J. G. M.; Oostveen, K.
- 期刊名称Review of Scientific Instruments
- 作者Hoeven, A. J.; van Loenen, E. J.; van Hooft, P. J. G. M.; Oostveen, K.
- 卷第61卷
- 期第6期
- 印刷ISSN0034-6748
- 文件大小1015.80KB
- 发表时间1990
- DOI10.1063/1.1141130