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Amorphous-to-Crystalline Transformation and Metal Induced Crystallization Phenomena in a-Si:F and a-Si:D:H Thin Films

Amorphous-to-Crystalline Transformation and Metal Induced Crystallization Phenomena in a-Si:F and a-Si:D:H Thin Films

Edelman, F.; Cytermann, C.; Brener, R.; Eizenberg, M.; Weil, R.; Beyer, W.

期刊名称MRS Proceedings
作者Edelman, F.; Cytermann, C.; Brener, R.; Eizenberg, M.; Weil, R.; Beyer, W.
卷第205卷
电子ISSN1946-4274
文件大小1190.71KB
发表时间1990-1
DOI10.1557/proc-205-75

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