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Quantitative surface analysis (AES) of SiC

Quantitative surface analysis (AES) of SiC

B. Jørgensen; P. Morgen

作者B. Jørgensen; P. Morgen
卷第16卷
印刷ISSN0142-2421
电子ISSN1096-9918
文件大小365.62KB
发表时间1990
DOI10.1002/sia.740160139
页码199-202

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