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Interface analysis during etchback of silicon oxide

Interface analysis during etchback of silicon oxide

L. Cramer; H. Duwe; H. Jungblut; P. Lange; H. J. Lewerenz
  • 作者L. Cramer; H. Duwe; H. Jungblut; P. Lange; H. J. Lewerenz
  • 文件大小365.14KB
  • 发表时间1991
  • DOI10.1088/0953-8984/3/S/012
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