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Fault modeling and fault equivalence in CMOS technology

Fault modeling and fault equivalence in CMOS technology

Marie -Lise Flottes; Christian Landrault; Serge Pravossoudovitch

作者Marie -Lise Flottes; Christian Landrault; Serge Pravossoudovitch
卷第2卷
期第3期
印刷ISSN0923-8174
电子ISSN1573-0727
文件大小1044.44KB
发表时间1991-08
DOI10.1007/bf00135440
页码229-241

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