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Pseudo-random test generation for large combinational circuits

Pseudo-random test generation for large combinational circuits

Zhongcheng Li; Yinghua Min

作者Zhongcheng Li; Yinghua Min
卷第7卷
期第1期
印刷ISSN1000-9000
电子ISSN1860-4749
文件大小559.85KB
发表时间1992-01
DOI10.1007/bf02946162
页码19-28

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