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Spectroscopic ellipsometry of optical transitions in thin strained Si1−xGex films

Spectroscopic ellipsometry of optical transitions in thin strained Si1−xGex films

F. Ferrieu; F. Beck; D. Dutartre

作者F. Ferrieu; F. Beck; D. Dutartre
卷第82卷
期第6期
印刷ISSN0038-1098
文件大小328.98KB
发表时间1992
DOI10.1016/0038-1098(92)90743-s
页码427-430

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