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Charge trapping in wafer bonded MOS structures

Charge trapping in wafer bonded MOS structures

Anders Jauhiainen; Stefan Bengtsson; Olof Engström

作者Anders Jauhiainen; Stefan Bengtsson; Olof Engström
卷第19卷
印刷ISSN0167-9317
文件大小259.00KB
发表时间1992
DOI10.1016/0167-9317(92)90504-k
页码597-600

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