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AFM/STM investigation of polycrystalline Si surface

AFM/STM investigation of polycrystalline Si surface

Y. Sugawara; Y. Fukano; Y. Kamihara; S. Morita; A. Nakano; T. Ida; R. Kaneko

作者Y. Sugawara; Y. Fukano; Y. Kamihara; S. Morita; A. Nakano; T. Ida; R. Kaneko
印刷ISSN0304-3991
文件大小707.31KB
发表时间1992
DOI10.1016/0304-3991(92)90451-o
页码1372-1375

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