Direct observation of Si delta-doped GaAs by transmission electron microscopy
D. G. Liu; J. C. Fan; C. P. Lee; C. M. Tsai; K. H. Chang; D. C. Liou; T. L. Lee; L. J. Chen
- 作者D. G. Liu; J. C. Fan; C. P. Lee; C. M. Tsai; K. H. Chang; D. C. Liou; T. L. Lee; L. J. Chen
- 文件大小856.61KB
- 发表时间1992
- DOI10.1063/1.106902