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Comparison of Current-Induced Migration of Be and C in GaAs/AlGaAs HBTs

Ren, F.; Fullowan, T. R.; Lothian, J. R.; Wisk, P. W.; Abernathy, C. R.; Kopf, R. F.; Emerson, A. B.; Downey, S. W.; Pearton, S. J.

期刊名称MRS Proceedings
作者Ren, F.; Fullowan, T. R.; Lothian, J. R.; Wisk, P. W.; Abernathy, C. R.; Kopf, R. F.; Emerson, A. B.; Downey, S. W.; Pearton, S. J.
卷第262卷
电子ISSN1946-4274
文件大小329.70KB
发表时间1992-1
DOI10.1557/proc-262-797