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Fault behavior and testability of asynchronous CMOS circuits

Fault behavior and testability of asynchronous CMOS circuits

H.T. Vierhaus; W. Meyer; U. Gläser; R. Camposano
  • 作者H.T. Vierhaus; W. Meyer; U. Gläser; R. Camposano
  • 卷第38卷
  • 印刷ISSN0165-6074
  • 文件大小381.11KB
  • 发表时间1993
  • DOI10.1016/0165-6074(93)90148-e
  • 页码223-228
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